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Publisher’s Note: Reply to “Comment on ‘Ultrafast Demagnetization Measurements Using Extreme Ultraviolet Light: Comparison of Electronic and Magnetic Contributions’ ” [Phys. Rev. X 3, 038002 (2013)PRXHAE2160-3308]

机译：出版商的说明：回复“评论'使用极紫外光的超快退磁测量：电子和磁性贡献的比较'”[物理。 Rev. X 3,038002（2013）pRXHaE2160-3308]

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Emrah Turgut; Patrik Grychtol; Chan La-O-Vorakiat; Daniel E. Adams; Henry C. Kapteyn; Margaret M. Murnane; Stefan Mathias; Martin Aeschlimann; Claus M. Schneider; Justin M. Shaw; Hans T. Nembach; Thomas J. Silva;
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年度 2013
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机译：发行人注：答复“关于“使用极紫外光进行超快退磁测量：电子和磁贡献的比较”的评论”版本X xmlns：xlink =“ http://www.w3.org/1999/xlink” style =“ font-weight：粗体;
2. Ultrafast Demagnetization Measurements Using Extreme Ultraviolet Light: Comparison of Electronic and Magnetic Contributions [J] . Chan La-O-Vorakiat, Emrah Turgut, Carson A. Teale, Physical Review X . 2012,第1期

机译：使用极紫外光进行超快退磁测量：电子和磁性成分的比较
3. Publisher's Note:Publisher's Note: “Radial profile measurement of electron temperature in edge stochastic magnetic field layer of LHD using intensity ratio of extreme ultraviolet line emissions” [Rev. Sci. Instrum. 83, 10E509 (2012)] [J] . Wang Erhui, Morita Shigeru, Kobayashi Masahiko, Review of Scientific Instruments . 2012,第10期

机译：发行者的注释：发行者的注释：“使用极端紫外线辐射的强度比测量LHD边缘随机磁场层中电子温度的径向分布”。科学仪器83，10E509（2012）]
4. Reply to “Comment on ‘Ultrafast Demagnetization Measurements Using Extreme Ultraviolet Light: Comparison of Electronic and Magnetic Contributions’ ” [O] . Emrah Turgut, Patrik Grychtol, Chan La-O-Vorakiat, 2013

机译：回复“评论'使用极紫外光的超快退磁测量：电子和磁性贡献的比较'”

Publisher’s Note: Reply to “Comment on ‘Ultrafast Demagnetization Measurements Using Extreme Ultraviolet Light: Comparison of Electronic and Magnetic Contributions’ ” [Phys. Rev. X 3, 038002 (2013)PRXHAE2160-3308]

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